CX:試品
C1:高壓端對瓷套的雜散電容
C2:低壓端對瓷套的雜散電容
R:瓷套表面泄漏對地電阻
1:為試驗電壓
2:為儀器輸入
這樣,C1、C2、R形成T形網(wǎng)絡(luò ),由于C1和R微分移相作用,使通過(guò)C2的電流超前,而使介損減小。設1為外加電壓U、2接地電位,流過(guò)2的電流為:

介質(zhì)損耗因數為實(shí)部電流與虛部電流之比,由于第一項為負值,故介損因數減小。
以CX=120pF,C1=1pF,C2=0.1pF,R=1000MΩ,CX無(wú)介損,按上式計算,T形網(wǎng)絡(luò )引起的附加介損為:-0.025%
同理, 檢修用腳手架及包裝箱引起正接線(xiàn)測量介質(zhì)損耗減。涸嚻穼Πb箱形成雜散電容,也形成T型網(wǎng)絡(luò )干擾。
解決方法:
1、擦干凈瓷套表面的臟污。
2、在陽(yáng)光下曝曬試品或加熱烤干瓷套 ,變壓器套管吹干中間三裙。
3、高壓線(xiàn)盡量水平拉遠,不要貼近瓷套表面 。
4、改用末端加壓法或常規法測量電磁式PT。
5、新設備吊裝前試驗時(shí),一定要拆掉包裝箱和腳手架,移開(kāi)木梯,解開(kāi)繩套。做變壓器套管時(shí)一定要放在套管架上試驗,不能斜靠在墻上或躺放在地上。 |