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 用萬(wàn)用表作為檢測工具的集成電路的檢測方法

用萬(wàn)用表作為檢測工具的集成電路的檢測方法
來(lái)源:互聯(lián)網(wǎng)   發(fā)布時(shí)間:10月12日   查看次數:461次
編者按:雖說(shuō)集成電路代換有方,但拆卸畢竟較麻煩。因此,在拆之前應確切判斷集成電路是否確實(shí)已損壞及損壞的程度,避免盲目拆卸。本文介紹了僅用萬(wàn)用表作為檢測工具的不在路和在路檢測集成電路的方法和注意事項。文中所述在路檢測的四種方法(直流電阻、電壓、交流電壓和總電流的測量)是業(yè)余維修中實(shí)用且常用的檢測法。這里,也希望大家提供其他實(shí)用的(集成電路和元器件)判別檢測經(jīng)驗。

  一、不在路檢測
  這種方法是在IC未焊入電路時(shí)進(jìn)行的,一般情況下可用萬(wàn)用表測量各引腳對應于接地引腳之間的正、反向電阻值,并和完好的IC進(jìn)行比較。

  二、在路檢測
  這是一種通過(guò)萬(wàn)用表檢測IC各引腳在路(IC在電路中)直流電阻、對地交直流電壓以及總工作電流的檢測方法。這種方法克服了代換試驗法需要有可代換IC的局限性和拆卸IC的麻煩,是檢測IC最常用和實(shí)用的方法。

 。保诼分绷麟娮铏z測法
  這是一種用萬(wàn)用表歐姆擋,直接在線(xiàn)路板上測量IC各引腳和外圍元件的正反向直流電阻值,并與正常數據相比較,來(lái)發(fā)現和確定故障的方法。測量時(shí)要注意以下三點(diǎn):
  (1)測量前要先斷開(kāi)電源,以免測試時(shí)損壞電表和元件。
  (2)萬(wàn)用表電阻擋的內部電壓不得大于6V,量程最好用R×100或R×1k擋。
  (3)測量IC引腳參數時(shí),要注意測量條件,如被測機型、與IC相關(guān)的電位器的滑動(dòng)臂位置等,還要考慮外圍電路元件的好壞。

 。玻绷鞴ぷ麟妷簻y量法
  這是一種在通電情況下,用萬(wàn)用表直流電壓擋對直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進(jìn)行測量;檢測IC各引腳對地直流電壓值,并與正常值相比較,進(jìn)而壓縮故障范圍,找出損壞的元件。測量時(shí)要注意以下八點(diǎn):
  (1)萬(wàn)用表要有足夠大的內阻,至少要大于被測電路電阻的10倍以上,以免造成較大的測量誤差。
  (2)通常把各電位器旋到中間位置,如果是電視機,信號源要采用標準彩條信號發(fā)生器。
  (3)表筆或探頭要采取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞IC?刹扇∪缦路椒ǚ乐贡砉P滑動(dòng):取一段自行車(chē)用氣門(mén)芯套在表筆尖上,并長(cháng)出表筆尖約0.5mm左右,這既能使表筆尖良好地與被測試點(diǎn)接觸,又能有效防止打滑,即使碰上鄰近點(diǎn)也不會(huì )短路。
  (4)當測得某一引腳電壓與正常值不符時(shí),應根據該引腳電壓對IC正常工作有無(wú)重要影響以及其他引腳電壓的相應變化進(jìn)行分析,才能判斷IC的好壞。
  (5)IC引腳電壓會(huì )受外圍元器件影響。當外圍元器件發(fā)生漏電、短路、開(kāi)路或變值時(shí),或外圍電路連接的是一個(gè)阻值可變的電位器,則電位器滑動(dòng)臂所處的位置不同,都會(huì )使引腳電壓發(fā)生變化。
  (6)若IC各引腳電壓正常,則一般認為IC正常;若IC部分引腳電壓異常,則應從偏離正常值最大處入手,檢查外圍元件有無(wú)故障,若無(wú)故障,則IC很可能損壞。
  (7)對于動(dòng)態(tài)接收裝置,如電視機,在有無(wú)信號時(shí),IC各引腳電壓是不同的。如發(fā)現引腳電壓不該變化的反而變化大,該隨信號大小和可調元件不同位置而變化的反而不變化,就可確定IC損壞。
  (8)對于多種工作方式的裝置,如錄像機,在不同工作方式下,IC各引腳電壓也是不同的。

 。常涣鞴ぷ麟妷簻y量法
  為了掌握IC交流信號的變化情況,可以用帶有dB插孔的萬(wàn)用表對IC的交流工作電壓進(jìn)行近似測量。檢測時(shí)萬(wàn)用表置于交流電壓擋,正表筆插入dB插孔;對于無(wú)dB插孔的萬(wàn)用表,需要在正表筆串接一只0.1~0.5μF隔直電容。該法適用于工作頻率比較低的IC,如電視機的視頻放大級、場(chǎng)掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同,波形不同,所以所測的數據是近似值,只能供參考。

 。矗傠娏鳒y量法
  該法是通過(guò)檢測IC電源進(jìn)線(xiàn)的總電流,來(lái)判斷IC好壞的一種方法。由于IC內部絕大多數為直接耦合,IC損壞時(shí)(如某一個(gè)PN結擊穿或開(kāi)路)會(huì )引起后級飽和與截止,使總電流發(fā)生變化。所以通過(guò)測量總電流的方法可以判斷IC的好壞。也可用測量電源通路中電阻的電壓降,用歐姆定律計算出總電流值。

  以上檢測方法,各有利弊,在實(shí)際應用中最好將各種方法結合起來(lái),靈活運用。
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