1、電容試品的模型

    任何有介損的電容器都可以模擬成RC串聯(lián)和并聯(lián)兩種理想模型：

串聯(lián)模型

并聯(lián)模型

   理論上串聯(lián)模型tgδ=2πfRC，并聯(lián)模型tgδ=1/(2πfRC)，R和C基本不變，f是變化量。把45Hz、50Hz、55Hz分別代入公式，可看到tgδ分別隨頻率f成正比和反比。如下圖所示，f對完全正比和完全反比兩種模型影響較大。

2、AI-6000介損儀采用的工作模型

    實(shí)際電容試品在一個(gè)固定頻率下，即可以用串連模型也可以用并聯(lián)模型表示。例如50Hz下，下面兩個(gè)電路對外呈現的特性完全一樣：

    不同的電橋測量這兩個(gè)試品，其介損都是31.4％，但西林電橋（2801、QS1和QS37等）測量的電容量是10000pF，電流比較儀電橋（如QS30）測量的電容量是9101.7pF。這是因為2801電橋認為試品損耗是串連模型，QS30認為試品是并聯(lián)模型。實(shí)際上當介損在10％以下時(shí)，這種電容量的差別是很小的。

    實(shí)際電容器是多種模型交織的混合模型，通過(guò)大量的試驗和理論計算，實(shí)際電力電容器大多數符合并聯(lián)模型，這是因為有功電流穿過(guò)電極之間的絕緣層，更象是損耗電阻并聯(lián)在電極之間，而電極本身電阻為零，沒(méi)有損耗。如CT、套管和均壓電容等，它們的tgδ多隨頻率的增大而減小。

    所以AI-6000采用并聯(lián)模型測量電容器的介質(zhì)損耗，也可采用串連模型工作方式。

3、AI-6000介損儀的檢定

    試驗室檢定介損測量?jì)x時(shí)，用QSJ3校驗臺檢驗比較準確。介損測試儀的量程和準確度都能準確的檢驗出來(lái)。但QSJ3比較麻煩，在要求不是很?chē)栏竦那闆r下，大多采用標準損耗器來(lái)校驗。

    標準損耗器一般采用一個(gè)三電極的標準電容和多個(gè)精密電阻的串聯(lián)來(lái)實(shí)現，量程0-10%，分多個(gè)檔位。標準損耗器是一個(gè)典型的串聯(lián)模型。所以用AI-6000做標準損耗器時(shí)要把工作模式調為串聯(lián)模型，這樣才能和各個(gè)檔位的實(shí)際值完全對應起來(lái)。

    有時(shí)在測量標準損耗器時(shí)，隨著(zhù)介損的增大而測量出的電容量反而減小，而實(shí)際標準電容容量是固定的，并沒(méi)有發(fā)生變化，這就是因為沒(méi)選對模型造成的�？捎孟旅娴墓�式校準：

C校準=C讀數（1+tg2δ）

    校驗時(shí)，應采用全屏蔽的標準插頭連接介損儀和試品，裸露的電極也會(huì )引起很大的誤差。

    注意：西林型電橋做三電極結構（高壓極、低壓極和屏蔽極）的標準損耗器時(shí)正、反接線(xiàn)都能做。而M型介損電橋只能做正接線(xiàn)，不能做反接線(xiàn)，否則會(huì )燒壞標準損耗器。