影響光纖熔接耗損的原因較多，大體可分為光纖本征原因和非本征原因兩類(lèi)�！　�

1．影響光纖續接耗損的非本征原因即續接技術(shù)。 　

（1）軸心錯位：?jiǎn)文９饫w纖芯很細，兩根對接光纖軸心錯位會(huì )影響續接耗損。當錯位1.2μm時(shí)，續接耗損達0.5dB�！　�

（2）軸心傾斜：當光纖斷面傾斜1°時(shí)，約發(fā)生0.6dB的續接耗損，如果要求續接耗損≤0.1dB，則單模光纖的傾角應為≤0.3°�！　�

（3）端面分離：活動(dòng)連接器的連接不好，很容易發(fā)生端面分離，造成連接耗損較大。當熔接機放電電壓較低時(shí)，也容易發(fā)生端面分離，此情況一般在有拉力測試功能的熔接機中可以發(fā)現�！　�

（4）端面質(zhì)量：光纖端面的平整度差時(shí)也會(huì )發(fā)生耗損，甚至氣泡�！�

（5）續接點(diǎn)附近光纖物理變形：光纜在架設過(guò)程中的拉伸變形，續接盒中夾固光纜壓力太大等，都會(huì )對續接耗損有影響，甚至熔接幾次都不能改善�！　�

2．光纖本征原因是指光纖自身原因，主要有四點(diǎn)。 　

（1）光纖模場(chǎng)直徑不一致；　

（2）兩根光纖芯徑失配；　

（3）纖芯截面不圓； 　　

（4）纖芯與包層同心度不佳�！　∑渲泄饫w模場(chǎng)直徑不一致影響最大，按CCITT(國際電報電話(huà)咨詢(xún)委員會(huì ))建議，單模光纖的容限標準如下：　　模場(chǎng)直徑：（9~10μm）±10％，即容限約±1μm；　　包層直徑：125±3μm；　　模場(chǎng)同心度誤差≤6％，包層不圓度≤2％�！�

3．其他原因的影響�！　±m接人員操作水平、操作步驟、盤(pán)纖工藝水平、熔接機中電極清潔程度、熔接參數設置、工作環(huán)境清潔程度等均會(huì )影響到熔接耗損的值。